射频测试如何选择合适的探针?由于待测设备(DUT)的性质和构成非常敏感且通常较为精细,因此射频电路的测量往往是一项棘手任务。高可靠性射频测量中困扰多的两大问题是:频率太高时,当前测试设备无法进行射频能量的测量当待测电路对电气环境中的微小变化敏感时,测量中要求频率或幅度不发生扰动这些问题可通过采用对待测电路的能量扰动尽可能小的测量探针解决,其中,高阻抗探针中的放大器能够平衡待测电路的受扰能量。➤与测试射频的阻抗匹配在射频电路系统测试中,探针与测试设备的阻抗匹配对于能否实现有效的功率传输而言至关重要。然而,随着测试频率越来越高,以及对测试误差的要求越来越严格,上述阻抗匹配变得越来越困难。➤接触测试点、频率或数据速率、探针可用空间以及环境条件在射频测试领域中,射频测试探针分为多种不同类型,如何选择合适的探针取决于对待接触测试点、频率或数据速率、探针可用空间以及环境条件的考量。将来,射频探针需要具有测试更小焊盘及多个信道的设计能力,以及同时覆盖多种毫米波、射频、逻辑和功率信道测量范围的能力。射频测试设备主要由测试仪表、屏蔽箱、测试软件等部分构成。苏州蓝牙射频测试标准
一个传统的射频测试探针包括了以下几个部分:测试仪器接口(同轴或是波导)从测试接口到微同轴电缆的转接微同轴电缆到平面波导(CPW/MS等)转接共面接口到DUT部分即针尖。其他一些相关的概念Probepitch:指的是针尖(ProbeTips)之间的间距,一般在50-1000um之间不等。对于毫米波频率的应用,针尖间距一般都比较小。Probeskate:当你在Z轴方向往下“按压”探针时,当探针接触到DUT,它将在ZY平面弯曲移动。通常,这也是我们判断针是否扎上的一个现象。De-embeding:去嵌是在探针出现之前就有的技术,之前经常用在一些标准的分立的夹具测试中。惠州射频仪器射频测试是射频电流,它是一种高频交流变化电磁波的简称。
自从无线电发射机诞生之日起,工程师们就开始关心射频测试中射频功率测量的问题,直到现在依然是个热门话题。无论是在实验室、产线,还是教学里,功率测量都是必不可少的。在无线电发展初期,测试工程师所面对的大多数是连续波、调幅、调频、调相或脉冲信号,这些信号都是有规律可循的。例如,连续波调频或调相信号的功率测量都是很简单,只需要测量其平均功率;调幅信号功率与其调制深度有关,而脉冲信号的特性是以脉冲宽度和占空比来表达。对于以上这些模拟或模拟调制信号,射频功率测量所关心的基本上都是平均功率和峰值功率。
射频测试项目其中包括:1.发射功率测试(传导法、辐射法);2.发射瞬态功率测试;3.发射邻道与次邻道功率测试;4.发射宽带测试;5.发射频谱特性;6.发射频率误差相位误差;7.发射杂散测试(传导法、辐射法);8.接收比较大可用灵敏度;9.接受邻近通道选择;10.接收信号阻塞;11.接收同信道抑制;12.接收杂散响应抑制;13.接收互调响应抑制;14.SAR测试。RF测试办理要求:1、低电压的条件下工作频率误差不超过±10ppm,且发射功率在杂散限制范围内;2、停止发射电压需低于制造商宣告的工作电压。射频测试探针通常由适合探针针型的波导或同轴连接器组成。
射频测试有哪些应用呢?如BLE作为手机的标配,也进而带动了周边设备的发展,像TWS耳机、智能手环、蓝牙鼠标等广泛应用在各个行业。不同厂家设计的BLE产品能否兼容,其中非常重要的一个点就是互操作性。两个BLE设备间能够可靠稳定工作,一方面取决于应用层协议规范的兼容,还有一个特别重要的影响因素就是射频性能,包括发射功率、带内功率、调制一致性、载波频率偏移和漂移、带内杂散、发送频谱密度以及相位噪声等,其对用户的直观影响就是通讯距离短和是否掉线,进而影响用户体验。因此在研发和生产过程中需要对在研产品的射频性能进行测试,以保证其无线指标符合蓝牙射频规范的要求。RF射频测试座是几个部分构成,首先是测试座外壳+测试座常规探针+RF射频同轴连接器。自动化射频灵敏度测试
射频测试的前端各种器件与基带一起配合工作,共同决定了手机的通信模式、能力及性能。苏州蓝牙射频测试标准
蓝牙射频测试系统特点中文界面,操作简单易用支持BasicRate、EDR、BLE的所有测试项目测试快速稳定,推荐配置(输出功率、频率偏置、灵敏度)8–12s即可完成测试可以配置不同产品模板,快速切换生产测试数据EXCEL表格保存,结果分析追溯简便支持MES系统对接,生产质量实时可追溯可控兼容N4010A、MT8852A/B、R&S®CMW500、R&S®CMW270、R&S®CMW100、IQXEL等,完全自主开发,提供定制化服务,如研发测试实际灵敏度,长时间误码率测试等研发测试只需更换治具即可快速切换PCBA、成品测试支持高通/CSR、瑞昱、络达、恒玄BES、中星微、原相、博通、中科蓝讯、杰理等方案。苏州蓝牙射频测试标准